AH-70 series
帶裝元件自動光學檢測平台

AH-70為帶裝元件執行光學檢測的專用平台,可整合本公司推出的AOI(光學辨識)系列組件,達到元 件自動檢測的目的,舉凡IC或任何元件極性點及打印點的辨識即可延伸應用處理打印點品質、元件 翻面、旋轉、疊料、缺料等檢測,或者選擇其他更進階的檢測功能。AH-70Series帶裝元件自動光學 檢測平台以快速、正確。

品牌型号 : AH-70 series
帶裝元件自動光學檢測平台
服务专线 :
上海總公司: 021-57771796
北京分公司: 010-62652592
東莞分公司: 0769-85349978
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AH-70 series 
帶裝元件自動光學檢測平台 


产品簡介

 AH-70為帶裝元件執行光學檢測的專用平台,可整合本公司推出的AOI(光學辨識)系列組件,達到元 件自動檢測的目的,

舉凡IC或任何元件極性點及打印點的辨識即可延伸應用處理打印點品質、元件 翻面、旋轉、疊料、缺料等檢測,或者選擇其他更進階的檢測功能。

AH-70Series帶裝元件自動光學 檢測平台以快速、正確的辨識成果,為生產線排除製造質量的瓶頸,是電子製造業者最得力的助手。 


品特色

■ AH-70光學檢測平台搭配本公司推出的AOI(光學辨識)系列組件,無需剝離透明膠膜即可進行檢測。 

■ AH-70檢出錯誤時發出警報並暫停,待人員處理妥善後,再按鍵   繼續執行,尤其設置有檢出錯誤矯正區,方便即時修正異常快速   完成檢測作業。

■ AH-70設有AOI複測功能,協助確認矯正的結果。

■ 光學檢測可建立、修改工作設定檔。

■ 可依據待測物的差異選擇並更換鏡頭及光源。


产品規格

                                           機型

AH-70

                                           產能(pcs/hour)

10K(含Pin 1檢測時間) 

機台

重複精度+/- 0.1mm 
運動方式

齒輪傳動

適用元件尺寸

2x3~5x8mm

(搭配1/3吋Sensor, 50mm CCTV鏡頭) 

適用料帶寬 8~32mm JEDEC Carrier 
適用料盤直徑 最大320mm 
適用膠膜 完全透明膠膜 
外觀尺寸1080x335x500mm 
重量 20KG 

控制系統

控制單元 PLC 
人機介面 5”觸控螢幕 
操作需求輸入電壓 AC 200~245V,單相三線 
電壓/頻率 50/60Hz 
功耗 200W 

選購

光學檢測模組 AOI-100P/C 元件方向,字符檢測
光學檢測模組 AOI-200P/C 元件方向,字符,翹腳檢測 
光學檢測模組 AOI-300C 元件方向,字符,文字OCR檢測 
鏡頭,光源 依據使用單位需求形成方案對應